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氙燈老化試驗箱

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PCT與HAST老化試驗箱廣泛用於哪些設備?

發布時間:2019-11-08 13:36    點擊數:    【

  PCT與HAST老化試驗134-1223-4013(董s)主要作用是用來測試半導體封裝的濕氣能力,待測產品被置於嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用於多層線路板,IC封裝,LED屏幕,LED,半導體,磁性材料,釹鐵硼,等產品之密封性能的檢測,測試其製品的耐壓性,氣密性.常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因汙染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境因素(如:溫度)與工作因素(施加給產品的電壓、負荷等),加速試驗過程,縮短產品或係統的壽命試驗時間。

 

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